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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products--

Damp heat testing equipments

2008-06-16 發(fā)布 2009-03-01 實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 發(fā)布

中 國(guó) 國(guó) 家 標(biāo) 準(zhǔn) 化 管 理 委 員 會(huì)

目 次

前言 II

1范圍 1

2規(guī)范性引用文件 1

3術(shù)語(yǔ)和定義 1

4檢驗(yàn)項(xiàng)目 1

5檢驗(yàn)用主要儀器及要求 2

6檢驗(yàn)負(fù)載 2

7檢驗(yàn)條件 2

8檢驗(yàn)方法 2

9數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果 10

10檢驗(yàn)周期 10

附錄 A （規(guī)范性附錄） 檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇 11

附錄 B  （規(guī)范性附錄） 干濕表法測(cè)量相對(duì)濕度 12

前 言

GB/T 5170包含以下部分：

——GB/T 5170.1－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則

——GB/T 5170.2－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.5－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.8－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.9－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 太陽(yáng)輻射試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.10－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.11－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.13－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)

——GB/T 5170.14－1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)

——GB/T 5170.15－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)

——GB/T 5170.16－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)

——GB/T 5170.17－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.18－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.19－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備

——GB/T 5170.20－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備本部分是GB/T 5170的第5部分。

本部分代替GB/T 5170.5－1996。與GB/T 5170.5－1996相比，技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化：

——標(biāo)準(zhǔn)名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備”；

——所有用詞“檢定”更改為“檢驗(yàn)”；

——增加了“術(shù)語(yǔ)和定義”一章；

——增加了“相對(duì)濕度波動(dòng)度”檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——增加了“相對(duì)濕度均勻度” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——增加了“每 5min 溫度平均變化速率” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——增加了“溫度指示誤差” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——增加了“相對(duì)濕度指示誤差” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——增加了“溫度過(guò)沖量” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——增加了“相對(duì)濕度過(guò)沖量” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——增加了“溫度過(guò)沖恢復(fù)時(shí)間” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——增加了“相對(duì)濕度過(guò)沖恢復(fù)時(shí)間” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——增加了“噪聲” 檢驗(yàn)項(xiàng)目；

——在“檢驗(yàn)用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測(cè)量系統(tǒng)和濕度測(cè)量系統(tǒng)其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k=2）的要求；

——增加了“檢驗(yàn)負(fù)載”一章；

——測(cè)量數(shù)據(jù)記錄改為每一分鐘記錄一次數(shù)據(jù)；

——增加了附錄 A “檢驗(yàn)項(xiàng)目的選擇”；

——增加了附錄 B “干濕表法測(cè)量相對(duì)濕度”。附錄A和附錄B為規(guī)范性附錄。

本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC 8)提出并歸口。本部分起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所。

本部分主要起草人：伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國(guó)良。本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況：

——GB/T 5170.5-1985，GB/T 5170.6-1985，GB/T 5170.7-1985，GB/T 5170.5-1996。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

1范圍

GB/T 5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用主要儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、數(shù)據(jù)處理結(jié)果與檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期等內(nèi)容。

本部分適用于對(duì)GB/T 2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)》、GB/T 2423.4《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法》和GB/T 2423.16

《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J：長(zhǎng)霉》所用試驗(yàn)設(shè)備的首次檢驗(yàn)/驗(yàn)收檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)。

本部分也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)GB/T 5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件， 其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。

GB/T 2423.3 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)（GB/T 2423.3

－2006， IEC 60068－2－78：2001，IDT）

GB/T 2423.4 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法（GB/T 2423.4－2008， IEC 60068－2－30：2005，IDT）

GB /T 2423.16 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)J：長(zhǎng)霉（GB/T 2423.16－1999， idt IEC 60068－2－10：1988）

GB/T 2424.6 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)（GB/T 2424.6－2006， IEC 60068－3－6：2001，IDT）

GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則GB/T 6999 環(huán)境試驗(yàn)用相對(duì)濕度查算表

GB/T 16839.1 熱電偶 第1部分：分度表（GB/T 16839.1－1997，idt IEC 60584－1：1995） IEC 60751 工業(yè)鉑電阻敏感元件

3術(shù)語(yǔ)和定義

本部分采用GB/T 5170.1-2008規(guī)定的術(shù)語(yǔ)和定義。

4檢驗(yàn)項(xiàng)目

本部分的檢驗(yàn)項(xiàng)目如下：

——溫度偏差；

——相對(duì)濕度偏差；

——溫度波動(dòng)度；

——相對(duì)濕度波動(dòng)度；

——溫度均勻度；

——相對(duì)濕度均勻度；

——每 5min 溫度平均變化速率；

——風(fēng)速；

——升降溫特性；

——溫度指示誤差；

——相對(duì)濕度指示誤差；

——溫度過(guò)沖量；

——相對(duì)濕度過(guò)沖量；

——溫度過(guò)沖恢復(fù)時(shí)間；

——相對(duì)濕度過(guò)沖恢復(fù)時(shí)間；

——噪聲。

5檢驗(yàn)用主要儀器及要求

5.1溫度測(cè)量?jī)x器

采用由鉑電阻、熱電偶傳感器及二次儀表組成的溫度測(cè)量系統(tǒng)，其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k=2） 不大于被檢溫度允許偏差的1/3。

鉑電阻傳感器應(yīng)符合IEC 60751的等級(jí)A，熱電偶傳感器應(yīng)符合GB/T 16839.1。

傳感器在空氣中的50％響應(yīng)時(shí)間應(yīng)在10s～40s之間，溫度測(cè)量系統(tǒng)的響應(yīng)時(shí)間應(yīng)小于40s。

5.2濕度測(cè)量?jī)x器

采用干濕球溫度計(jì)或由其他濕度傳感器組成的濕度測(cè)量系統(tǒng)，其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k=2） 不大于被測(cè)濕度允許偏差的1/3。

5.3風(fēng)速測(cè)量?jī)x器

采用各種風(fēng)速儀，其感應(yīng)量不大于0.05m/s。

5.4噪聲測(cè)量?jī)x器

帶A計(jì)權(quán)網(wǎng)絡(luò)的聲級(jí)計(jì)，其測(cè)量結(jié)果的擴(kuò)展不確定度（k=2）不大于1dB。

6檢驗(yàn)負(fù)載

按GB/T 5170.1-2008第7章的規(guī)定（或按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定）。

7檢驗(yàn)條件

7.1受檢試驗(yàn)設(shè)備在檢驗(yàn)時(shí)的氣候條件、電源條件、用水條件和其他條件應(yīng)符合 GB/T 5170.1-2008 第 4 章的規(guī)定。

7.2受檢試驗(yàn)設(shè)備的外觀和安全要求應(yīng)符合 GB/T 5170.1-2008 第 8 章的規(guī)定。

8檢驗(yàn)方法

8.1溫度偏差、相對(duì)濕度偏差、溫度波動(dòng)度、相對(duì)濕度波動(dòng)度、溫度均勻度、相對(duì)濕度均勻度、溫度指示誤差、相對(duì)濕度指示誤差、每 5min 溫度平均變化速率、風(fēng)速的檢驗(yàn)方法

8.1.1測(cè)量點(diǎn)數(shù)量及位置

8.1.1.1根據(jù)試驗(yàn)設(shè)備容積的大小，將工作空間分為上、中、下三層，中層通過(guò)工作空間幾何中心點(diǎn)。將一定數(shù)量的溫度、相對(duì)濕度傳感器布放在其中規(guī)定的位置上，傳感器不應(yīng)受冷熱源的直接輻射。

8.1.1.2測(cè)量點(diǎn)分別位于上、中、下三層。網(wǎng)絡(luò)收集數(shù)據(jù)，僅供參考

8.1.1.3溫度測(cè)量點(diǎn)用 O、A、B、C、D、E、F、G、H、J、K、L、M、N、U 表示。